<sup id="lxhhw"></sup>
      <dfn id="lxhhw"></dfn>
       

      對(duì)

      態(tài)

      ,


      個(gè)產(chǎn)品,

      對(duì)待每一

      做到極致認(rèn)真

      每一個(gè)零件
      細(xì)

      每一組數(shù)據(jù)

      • 智能型HMDS真空系統(tǒng)(JS-HMDS90-AI)
      • 潔凈烘箱,百級(jí)無(wú)塵烘箱
      • 氮?dú)夂嫦?,精密充氮烘?/div>
      • LCP熱處理烘箱,LCP纖維氮?dú)夂嫦?/div>
      • 熱風(fēng)循環(huán)真空烘箱,高溫?zé)犸L(fēng)真空烤箱
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      絕緣熱沖擊試驗(yàn)裝置,絕緣護(hù)套抗開裂試驗(yàn)裝置
          發(fā)布時(shí)間: 2021-09-26 13:42    

      護(hù)套熱沖擊試驗(yàn),護(hù)套抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置適用范圍

         本裝置符合GB/T2951.6、VDE0472Part608、IEC60811-3-1試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。本試驗(yàn)適用于通用電纜、電線和軟線的最常用類型的絕緣和護(hù)套材料。

      護(hù)套熱沖擊試驗(yàn),護(hù)套抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)設(shè)備

      2.1 熱老化箱

      2.2 熱沖擊試驗(yàn)裝置

      護(hù)套熱沖擊試驗(yàn),護(hù)套抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置熱沖擊試驗(yàn)

      3.1 取樣

      每個(gè)被試絕緣線芯應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的試樣,試樣取自兩處,間隔至少1m。

      若有外護(hù)層的話,應(yīng)從絕緣上除去。

      3.2 試樣制備

      試樣應(yīng)按下列3種方法中的一種進(jìn)行制備:

      • 對(duì)于外徑不超過12.5mm的絕緣線芯,每一試樣是一段絕緣線芯。
      • 對(duì)于外徑超過12.5mm,絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有扇形絕緣線芯,每個(gè)試樣應(yīng)取成絕緣窄條,其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍,但不小于4mm。

      窄條應(yīng)沿絕緣線芯的軸線方向切取,如果是扇形絕緣線芯,應(yīng)在絕緣線芯的“背部”切取。

      • 對(duì)于外徑超過12.5mm,絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯,每個(gè)試樣應(yīng)按b)項(xiàng)規(guī)定切取窄條,然后窄條的外表面磨或削(避免過熱)到4.0至5.0mm厚。該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)的。窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。

      3.3 試樣卷繞

      每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形,將兩端固定。

      試棒直徑和卷繞圈數(shù)規(guī)定如下:

      • 表1適用于按3.2條a項(xiàng)制備的試樣;對(duì)于扁平電纜和軟線,試棒直徑應(yīng)按其短軸尺寸選取,卷繞時(shí)使其短軸垂直于試棒。
      • 表2適用于按3.2條b項(xiàng)和c項(xiàng)制備的試樣。在這種情況下,試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。

      表1

      試樣外徑D

      (mm)

      試棒直徑

      (mm)

              卷繞圈數(shù)

      D≤2.5

      5

      6

      2.5<D≤4.5

      9

      6

      4.5<D≤6.5

      13

      6

      6.5<D≤9.5

      19

      4

      9.5<D≤12.5

      40

      2

      表2

      試樣厚度δ

      (mm)

      試棒直徑

      (mm)

              卷繞圈數(shù)

      δ≤1

      2

      6

      1<δ≤2

      4

      6

      2<δ≤3

      6

      6

      3<δ≤4

      8

      4

      4<δ≤5

      10

      2

      上表格中,試樣或厚度應(yīng)用游標(biāo)卡尺或其它合適的測(cè)量工具進(jìn)行測(cè)定。

      3.4 加熱和檢查

      繞在試棒上的試樣應(yīng)放入預(yù)熱到有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試驗(yàn)溫度的空氣烘箱中。如果電纜標(biāo)準(zhǔn)沒有規(guī)定,則預(yù)熱到(150±3)℃。試樣在規(guī)定溫度下保持1h。

      當(dāng)試樣達(dá)到近似環(huán)境溫度后,檢查仍在試棒上的試樣。

      3.5 試樣結(jié)果的評(píng)定

      當(dāng)用正常視力或校正后的視力而不用放大鏡進(jìn)行檢查時(shí),試樣應(yīng)無(wú)裂紋,

      護(hù)套熱沖擊試驗(yàn),護(hù)套熱沖擊試驗(yàn)

      4.1 取樣

      每個(gè)被試護(hù)套應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的電纜試樣,試樣取自兩處,間隔至少1m。

        所有的外護(hù)層應(yīng)除去。

      4.2 試樣制備

         a)對(duì)于外徑不超過12.5mm的護(hù)套,每一試樣是一段電纜,但聚乙烯絕緣聚氯乙烯護(hù)套電纜除外。

         b)對(duì)于外徑超過12.5mm,厚度不超過5.0mm的護(hù)套的聚乙烯絕緣電纜的護(hù)套,每個(gè)試樣應(yīng)是取自護(hù)套上的窄條,其寬度至少是護(hù)套厚度的1.5倍,但不小于4mm。窄條應(yīng)沿電纜的軸線方向切取。

         c)對(duì)于外徑超過12.5mm,厚度超過5.0mm的護(hù)套,每個(gè)試樣應(yīng)是按b)項(xiàng)規(guī)定切取窄條,然后在窄條的外表面磨或削(避免過熱)到4.0至5.0mm厚。該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)的。窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。

         d)對(duì)于扁電纜,如果電纜的寬度不超過12.5mm,每個(gè)試樣應(yīng)是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm,則每個(gè)試樣應(yīng)是按b項(xiàng)規(guī)定從護(hù)套上切取的窄條。

      4.3 試樣卷繞

      每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形,將兩端固定。試棒直徑和卷繞圈數(shù)為:按第4.2條a)項(xiàng)制備的試樣見3.3條a)項(xiàng)的規(guī)定;按4.2條b)項(xiàng)和c)項(xiàng)制備的試樣見3.3條b)項(xiàng)規(guī)定。試樣的直徑或厚度應(yīng)用游標(biāo)卡尺或其它合適的測(cè)量工具進(jìn)行測(cè)定。

      4.4 加熱和檢查

         按3.4條的規(guī)定。

      4.5 試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定

         按3.5條的規(guī)定。

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